表面粗糙度測(cè)量裝置錯(cuò)誤與缺點(diǎn)

　　表面粗糙度測(cè)量裝置粗糙度參數(shù)基于粗糙度輪廓來評(píng)估，粗糙度輪廓是通過使用輪廓濾波器來抑制原始輪廓的長波分量而獲得的。它是偏離平均線的輪廓的算術(shù)平均值，并以采樣長度定義。

　　影響濾波數(shù)據(jù)的因素如下：

　　1、采樣長度和評(píng)估長度的選擇：采樣長度用于確定具有表面粗糙度特征的參考線的長度。評(píng)估的長度是評(píng)估粗糙度時(shí)必須采用的函數(shù)。

　　反映加工表面粗糙度的小長度。

　　2、濾波器的高通和低通采樣長度和帶寬比的選擇對(duì)測(cè)量結(jié)果也有非常重要的影響。采樣波長是測(cè)量表面形貌時(shí)儀器響應(yīng)的表面特征（表面波長）之間的長距離，表面粗糙度測(cè)量裝置其范圍通常為0.08mm~8mm。

　　主要缺點(diǎn)如下：

　　1）測(cè)量參數(shù)較少，一般只能測(cè)量少量參數(shù)如Ra，Rz，Ry;

　　2）測(cè)量精度較低，測(cè)量范圍小，Ra值范圍一般在0.02~10 m左右;

　　3）測(cè)量方法不靈活，如選擇評(píng)估長度，濾波器選擇;

　　4）測(cè)量參數(shù);數(shù)據(jù)處理速度慢，輸出不直觀。

　　表面粗糙度測(cè)量裝置造成這些缺點(diǎn)的主要原因是：系統(tǒng)可靠性不高，模擬信號(hào)誤差大，處理不方便，計(jì)算機(jī)數(shù)據(jù)處理能力弱，算法不夠簡單有效。